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材质透检,缺陷捕捉!海康全新CI系列SWIR相机带你“洞见”更多
来源:海康 | 作者:海康 | 发布时间: 1200天前 | 1295 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:
海康机器人CI系列新增SWIR明星产品,填补了标准产品在短波波段上的响应空缺,且能在0.4μm-1.7μm内连续响应。相较于市面上传统的InGaAs相机,具备更薄的InP层,更小的像元尺寸,更少的坏点,及更高的一致性,在半导体、光伏、农业、印刷等行业的AOI设备中更为适用。

"工业相机在可见光领域中已具备较高的成熟度,并且已经扩展到NIR、UV等不可见光的领域,但市面上针对SWIR(1-3μm)光谱段响应的工业相机相对较少。

海康机器人CI系列新增SWIR明星产品,填补了标准产品在短波波段上的响应空缺,且能在0.4μm-1.7μm内连续响应。相较于市面上传统的InGaAs相机,具备更薄的InP层,更小的像元尺寸,更少的坏点,及更高的一致性,在半导体、光伏、农业、印刷等行业的AOI设备中更为适用。

CI系列SWIR工业面阵相机

MV-CI013-GS-TF工业SWIR相机,搭载InGaAs 传感器,内置多种图像预处理功能,采取主动制冷控制,确保图像质量优异,通过GigE接口实时传输非压缩图像,具备高帧率。

光谱更宽,“洞见”更多

MV-CI013-GS-TF采用InGaAs 传感器,支持0.4-1.7μm 宽光谱成像。产品将可见光和SWIR波段的响应融于一台相机,打破了原先仅仅响应于可见光或者SWIR波段的传感器局限,有助于削减系统成本,通过减轻图像处理负荷提升处理速度,大幅度扩展检测对象的领域和范围。

TEC制冷,图像更细腻

相机支持TEC 制冷控制,优化结构散热设计,ISP 功能丰富,支持阴影校正、降噪、对比度调节等功能,成像质量优异。

TEC开启/关闭时,噪点测试结果如下:

可靠的产品应用

■ 半导体硅片检测

硅在 1.1μm以上的波长下是透明的。因此,在最佳波段1.5μm的短波下,相机可拍摄到硅片的底层结构,检测硅片隐裂等缺陷;或拍摄TFT显示屏的背面,检测触点质量。

■ 光伏电池片检测

发光成像有助于通过使硅片或太阳能电池发光,来识别硅片或太阳能电池中的不一致性,如EL、PL等。

■ 材料分选(塑料分类)

SWIR可对多种材料进行分类。针对塑料制品,在特定的波段下,可用于识别PE、PP、PET、PS、PVC等多种材质,尤其适用于不同材质的黑色/同色塑料进行分选的需求,可广泛应用于在家用、汽车和电子产品中的塑料分类。

■ 含水量检测

水在特定的波长上有强烈的吸收作用,如在1.45μm波段下,水的吸收能力较强,所以在图像中显得比较暗。含水量少的部分,反射率会强烈增加,图像亮度较高。

农产品色选

液面检测




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